Задачи › Фотоэффект

Полупроводник

  1. Полупроводник

    Белорусская 2008/09, заключительный этап, 11 кл. · №24637

    В данном задании вам предстоит теоретически описать электрическую проводимость чистого (без примесей) полупроводника и ее зависимость от температуры и освещенности. Рассматриваемые ниже явления находят широчайшее применение в современных электронных приборах, в частности терморезисторах и фоторезисторах. В качестве примера полупроводника используется кристаллический кремний (c-Si), модель его кристаллической решетки показана на рисунке. Для численных расчетов используются характеристики именно этого вещества. В задаче используются традиционные обозначения, принятые в физике полупроводников.

    1.Введение – напоминание.

    Рисунок

    Для описания протекания электрического тока внутри вещества удобно пользоваться такой характеристикой, как плотность электрического тока \(\vec{j}\). Плотность тока определяется как количество электрического заряда, протекающего через площадку единичной площади, перпендикулярной направлению движения зарядов в единицу времени (или как сила электрического тока, протекающего через площадку единичной площади):

    \[j = \frac{\Delta q}{\Delta S \cdot \Delta t} = \frac{\Delta I}{\Delta t}.\tag{1}\]

    Плотность тока является векторной величиной, ее направление совпадает с направлением движения положительно заряженных частиц.

    Рисунок

    1.1 Пусть электрический ток равномерно протекает вдоль однородного цилиндра. Используя закон Ома для участка цепи, покажите, что плотность электрического тока внутри цилиндра рассчитывается по формуле

    \[\vec{j} = \sigma \vec{E},\tag{2}\]

    где \(\vec{E}\) - напряженность электрического поля внутри цилиндра, \(\sigma\) - удельная проводимость материала цилиндра (величина обратная удельному электрическому сопротивлению \(\sigma = \frac{1}{\rho}\)).

    Рисунок

    1.2 Пусть одинаковые частицы (заряд каждой равен \(q\)) движутся с одинаковыми скоростями \(\vec{v}\). Концентрация частиц в потоке равна \(n\). Чему равна плотность электрического тока в данном потоке частиц?

    1.3 Покажите, что средняя скорость направленного движения электронов в металле при протекании постоянного электрического тока пропорциональна напряженности электрического поля в металле

    \[\langle v \rangle = \mu E.\tag{3}\]

    где коэффициент пропорциональности \(\mu\) называется подвижностью электронов. Выразите удельную проводимость металла через подвижность электронов и их концентрацию в металле.

    2. Терморезистор.

    Рисунок

    Энергетические состояния электронов в кристалле состоят из нескольких зон. Верхняя заполненная зона называется валентной зоной, а следующая за ней зона возможных состояний – зоной проводимости. Между ними располагается запрещенная зона – электроны в кристалле не могут иметь такие значения энергии! Разность энергий между верхним краем валентной зоны и нижним краем зоны проводимости называется шириной запрещенной зоны и обозначается \(E_g\).

    Электроны, находящиеся в валентной зоне, «привязаны» к своим атомам и не могут перемещаться по кристаллу, следовательно, не могут быть носителями электрического тока. Электроны, находящиеся в зоне проводимости являются свободными, поэтому служат носителями электрического тока.

    В рассматриваемом кристаллическом кремнии при температуре абсолютного нуля все электроны находятся в валентной зоне, зона проводимости пуста, поэтому в этом состоянии полупроводник является изолятором. При повышении температуры вследствие теплового движения некоторые электроны могут переходить из валентной зоны в зону проводимости. В этом случае в зоне проводимости появляется свободный электрон, а в валентной зоне дырка. Скорость генерации \(G_T\) электронно-дырочных пар (число рождающихся в единице объема в единицу времени электронно-дырочных пар) в заданном полупроводнике зависит только от температуры.

    Таким образом, носителями электрического тока в полупроводниках являются свободные электроны и дырки. Причем дырки можно рассматривать как частицы с положительным зарядом равным элементарному заряду. Концентрация свободных электронов в полупроводнике обозначается \(n_i\), концентрация дырок \(p_i\). Однако в чистом полупроводнике (таком, как рассматривается в данной задаче) концентрации электронов и дырок одинаковы, поэтому используйте единое обозначение для их концентрации \(n_i = p_i = n\). Возможен и процесс, обратный рождению электронно-дырочной пары – электрон может перейти из зоны проводимости в валентную зону, при этом пара электрон-дырка исчезает. Такой процесс называется рекомбинацией. Очевидно, что скорость рекомбинации \(R\) (число исчезающих в единице объема в единицу времени электронно-дырочных пар) пропорциональна произведению концентраций электронов и дырок.

    При постоянной температуре полупроводника устанавливается динамическое равновесие – среднее число рождающихся электронно-дырочных пара становится равным числу пар, исчезающих вследствие рекомбинации: \(G_T = R\).

    Концентрация свободных электронов в этом случае называется равновесной концентрацией, ее обозначим \(\overline{n}\). Равновесная концентрация свободных электронов зависит только от абсолютной температуры \(T\) и определяется формулой

    \[\overline{n}(T) = A T^{3/2} \exp\left(-\frac{E_g}{kT}\right),\tag{4}\]

    где \(k\) - постоянная Больцмана; \(A\) - постоянная для данного вещества величина; \(\exp(x) = e^x\) - экспоненциальная функция.

    2.1 Используя физические характеристики кристаллического кремния, вычислите его удельную электрическую проводимость при комнатной температуре \(\sigma_0\).

    2.2 При малом изменении температуры \(\Delta T\) можно считать, что проводимость кремния изменяется по линейному закону

    \[\sigma = \sigma_0 (1 + \gamma \Delta T).\tag{5}\]

    Рассчитайте температурный коэффициент проводимости \(\gamma\) для кристаллического кремния при комнатной температуре. Изменением подвижностей электронов и дырок при изменении температуры можно пренебречь.

    3. Фоторезистор.

    Рисунок

    Электроны могут переходить в зону проводимости и при поглощении кванта света, в этом случае также образуется пара носителей тока «свободный электрон – дырка». Это явление называется внутренним фотоэффектом. На этом принципе работают полупроводниковые приборы для измерения интенсивности света (в том числе инфракрасного диапазона) – фоторезисторы.

    Если энергия фотона превышает энергетическую ширину запрещенной зоны, то он может поглотиться, в некоторых случаях поглощения фотона образуется электронно-дырочная пара. Отношение числа рожденных пар к числу поглощенных фотонов называется квантовым выходом фотоэффекта (обозначим эту величину \(\eta\)).

    Поглощение света характеризуется коэффициентом поглощения \(\alpha\). Величина \(\alpha \Delta x\) (при \(\alpha \Delta x \ll 1\)) равна отношению числа фотонов, поглощенных в тонком слое вещества толщиной \(\Delta x\), к числу фотонов падающих на этот слой.

    Для кристаллического кремния зависимость коэффициента поглощения от частоты падающего света описывается приближенной формулой

    \[\alpha(\nu) = B(h\nu - E_g)^2,\tag{6}\]

    где \(h\nu\) - энергия фотона (в электрон-вольтах), \(B = 3{,}9 \cdot 10^3 \, \text{см}^{-1} \cdot \text{эВ}^{-2}\) - эмпирическая постоянная.

    Рисунок

    Фоторезистор представляет собой тонкий кристаллический кремниевый слой. К краям слоя подведены металлические токопроводящие контакты с внешними выводами. Пластинка полностью освещается светом, падающим на нее нормально сверху. Толщина полупроводникового слоя \(h\) достаточно мала, так что в рассматриваемом далее спектральном диапазоне выполняется условие \(\alpha h \ll 1\). Температуру пластинки с полупроводниковым слоем можно считать постоянной и равной комнатной.

    3.1.1 Вычислите длину волны красной границы фотоэффекта \(\lambda_{\text{кр.}}\).

    3.1.2 Для упрощения дальнейших расчетов выразите коэффициент поглощения кремния как функцию от величины \(\lambda / \lambda_{\text{кр.}}\) (где \(\lambda\) - длина волны падающего света): \(\alpha = F(\lambda / \lambda_{\text{кр.}})\).

    3.1.3 Вычислите скорость генерации электронно-дырочных пар посредством фотоэффекта \(G_r\). Выразите данную величину через характеристики падающего света (длину волны \(\lambda\), интенсивность \(I_0\) - энергию, падающую в единицу времени на площадку единичной площади) и необходимые вам характеристики кремния, приведенные в справочной таблице.

    3.2.1 Запишите уравнение, описывающее скорость изменения концентрации свободных электронов \(\frac{\Delta n}{\Delta t}\) в полупроводнике, освещаемом светом. Учтите, что электронно-дырочные пары появляются не только под действием теплового движения, но и вследствие фотоэффекта.

    3.2.2 Пусть в результате кратковременного светового импульса концентрация свободных электронов превысила термодинамическую равновесную концентрацию \(\bar{n}\) на малую величину \(n_1\) (то есть \(n = \bar{n} + n_1\), причем \(\bar{n} \gg n_1\)). Покажите, что изменение этого отклонения \(\Delta n_1\) за малый промежуток времени \(\Delta t\) подчиняется уравнению

    \[\Delta n_1 = -\frac{n_1}{\tau} \Delta t,\tag{7}\]

    где \(\tau\) - некоторая постоянная, называемая временем жизни электронно-дырочной пары (ее численное значение для кристаллического кремния приведено в Справочной таблице).

    3.2.3 Выразите скорость тепловой генерации \(G_T\) и скорость рекомбинации \(R\) через концентрацию носителей тока и известные параметры кремния, приведенные в Справочной таблице.

    3.2.4 Пусть фоторезистор непрерывно освещается светом, в этом случае концентрация носителей достигает некоторого стационарного значения. Найдите отношение этой концентрации к равновесной концентрации \(\frac{n}{\overline{n}}\), как функцию длины волны (лучше \(\lambda/\lambda_{\text{кр.}}\)) и интенсивности падающего излучения \(I_0\).

    3.3 Измерение интенсивности света. Фоторезистор подключают к источнику постоянного напряжения и измеряют силу тока через него. При отсутствии освещения сила тока в цепи равна \(i_0\) (темновой ток).

    3.3.1 Найдите зависимость силы тока в цепи от характеристик падающего излучения (длины волны и интенсивности).

    3.3.2 Постройте примерный график зависимости отношения силы тока в цепи к темновому току \(i/i_0\) от интенсивности падающего света (в диапазоне от нуля до \(0{,}1 \frac{\text{Вт}}{\text{см}^2}\)) с длиной волны \(\lambda = 0{,}90\lambda_{\text{кр.}}\).

    3.3.3. Постройте примерный график зависимости \(i/i_0\) от длины волны падающего света в диапазоне от \(\lambda_1 = 0{,}8 \text{мкм}\) до \(\lambda_2 = 1{,}1 \text{мкм}\). Считайте, что интенсивность падающего излучения постоянна и равна \(I_0 = 1{,}0 \cdot 10^{-2} \frac{\text{Вт}}{\text{см}^2}\).

    Справочная таблица.}

    Комнатная температура\(T_0 = 300 \text{К}\)
    Заряд электрона\(e = 1{,}60 \cdot 10^{-19} \text{Кл}\)
    Скорость света в вакууме\(c = 3{,}00 \cdot 10^8 \text{м/с}\)
    Постоянная Больцмана\(k = 1{,}38 \cdot 10^{-23} \text{Дж} \cdot \text{К}^{-1}\)
    Постоянная Планка\(h = 6{,}63 \cdot 10^{-34} \text{Дж} \cdot \text{с}\)
    Характеристики кристаллического кремния
    Ширина запрещенной зоны\(E_g = 1{,}12 \text{эВ}\)
    Равновесная концентрация свободных электронов при комнатной температуре\(\overline{n} = 1{,}0 \cdot 10^{10} \text{см}^{-3}\)
    Подвижность свободных электронов\(\mu_n = 1{,}4 \cdot 10^3 \text{см}^2 \cdot \text{В}^{-1} \cdot \text{с}^{-1}\)
    Подвижность дырок\(\mu_p = 0{,}45 \cdot 10^3 \text{см}^2 \cdot \text{В}^{-1} \cdot \text{с}^{-1}\)
    Квантовый выход внутреннего фотоэффекта\(\eta = 0{,}10\)
    Время жизни электронно-дырочной пары\(\tau = 3{,}0 \cdot 10^{-3} \text{с}\)
    ▶ПодсказкаСкрыть: подсказка
    Подсказка

    Проводимость собственного полупроводника складывается из вклада электронов и дырок, а их равновесная концентрация зависит от температуры по экспоненте — температурный коэффициент удобно искать через производную логарифма концентрации. Для фоторезистора запишите баланс: тепловая генерация плюс световая минус рекомбинация, пропорциональная квадрату концентрации.

    ▶ОтветСкрыть: ответ
    Ответ

    1.1) \(\vec j=\sigma\vec E\); 1.2) \(j=qnv\); 1.3) \(\sigma=en\mu\); 2.1) \(\sigma_0=e\bar n(\mu_n+\mu_p)\approx3{,}0\cdot10^{-4}\text{ Ом}^{-1}\text{м}^{-1}\); 2.2) \(\gamma=\dfrac1T\Bigl(\dfrac32+\dfrac{E_g}{kT}\Bigr)\approx0{,}15\text{ К}^{-1}\); 3.1.1) \(\lambda_{\text{кр.}}=\dfrac{hc}{E_g}\approx1{,}0\) мкм; 3.1.2) \(\alpha=b\Bigl(\dfrac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda}-1\Bigr)^2\), \(b=BE_g^2\approx4{,}9\cdot10^5\text{ м}^{-1}\); 3.1.3) \(G_r=\dfrac{I_0\lambda}{hc}\alpha\eta\); 3.2.1) \(\dfrac{\Delta n}{\Delta t}=G_T+G_r-R\); 3.2.2) \(\dfrac{\Delta n_1}{\Delta t}=-2r\bar n\,n_1\), \(r=\dfrac{1}{2\bar n\tau}\); 3.2.3) \(G_T=\dfrac{\bar n}{2\tau}\), \(R=\dfrac{n^2}{2\bar n\tau}\); 3.2.4) \(\dfrac{n}{\bar n}=\sqrt{1+W\dfrac{I_0}{I_{00}}\dfrac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\Bigl(\dfrac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda}-1\Bigr)^2}\), \(W\approx1{,}5\cdot10^9\); 3.3.1) \(\dfrac{i}{i_0}=\dfrac{n}{\bar n}\) (та же формула); 3.3.2) \(i/i_0\approx\sqrt{1{,}67\cdot10^7\,I_0/I_{00}}\propto\sqrt{I_0}\); 3.3.3) \(i/i_0=1\) при \(\lambda>\lambda_{\text{кр.}}\), при \(\lambda<\lambda_{\text{кр.}}\) зависимость близка к линейной.

    ▶РешениеСкрыть: решение
    Решение
    Рисунок

    1.1 По закону Ома для участка цепи сила тока равна

    \[I = \frac{U}{R}.\tag{1}\]

    Подставляя известные формулы: — сопротивления проводника \(R = \rho \frac{L}{S}\);

    — связи напряжения и напряженности \(U = EL\); — связи силы и плотности тока \(I = jS\)

    в уравнение (1), получим \(jS = \frac{EL}{\rho \frac{L}{S}}\), откуда следует, что \(j = \frac{1}{\rho} E = \sigma E\). Очевидно, что направление движения заряженных частиц совпадает с направлением вектора напряженности электрического поля, поэтому

    \[\vec{j} = \sigma \vec{E}.\tag{2}\]

    Рисунок

    1.2 За время \(\Delta t\) площадку площадью \(\Delta S\), расположенную перпендикулярно векторам скоростей частиц, пересекут частицы, находящиеся от площадки на расстоянии \(v \Delta t\). Объем области, опирающейся на выделенную площадку, частицы в котором пересекут площадку равен \(\Delta V = v \Delta t \cdot \Delta S\), число частиц в нем \(N = n \Delta V = n v \Delta t \cdot \Delta S\), они переносят заряд \(\Delta Q = q N = q n v \Delta t \cdot \Delta S\). По определению плотности тока, получим

    \[j = \frac{\Delta Q}{\Delta t \cdot \Delta S} = q n v.\tag{3}\]

    1.3 Приравнивая выражения для плотности тока (2) и (3), получим

    \[e n v = \sigma E.\tag{4}\]

    Из этой формулы выразим среднюю скорость движения частиц \(v = \frac{\sigma}{e n} E\). Сравнивая это выражение с определением подвижности \(\langle v \rangle = \mu E\), находим, что проводимость металла находится по формуле

    \[\sigma = e n \mu.\tag{5}\]

    2.1 Для вычисления удельной проводимости полупроводника необходимо учесть, что ток обусловлен движением как свободных электронов, так и дырок. Не смотря на то, что электроны и дырки движутся в противоположных направлениях, электрические токи, обусловленные их движением, направлены в одну сторону (в сторону движения положительно заряженных дырок). С помощью формулы (5) находим

    \[\sigma_0 = e (n_i \mu_n + p_i \mu_p) = e \bar{n} (\mu_n + \mu_p).\tag{6}\]

    При подстановке численных значений из Таблицы справочных материалов их необходимо перевести в единицы системы СИ:

    \[\sigma _ { 0 } = e \overline { { { n } } } \left( \mu _ { n } + \mu _ { p } \right) = 1 { , } 6 0 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \, \textit { Кл } \cdot 1 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { 1 6 } \, \textit { м } ^ { - 3 } \left( 1 { , } 4 \cdot 1 0 ^ { 3 } + 0 { , } 4 5 \cdot 1 0 ^ { 3 } \right) \cdot 1 0 ^ { - 4 } \, \frac { \textit { м } ^ { 2 } } { \textit { В } \cdot \textit { с } } \approx\tag{7}\]

    \[\approx 3 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { - 4 } \, O \textit { м } ^ { - 1 } \cdot \textit { м } ^ { - 1 }\]

    2.2 Из приведенной в условии формулы

    \[\sigma = \sigma _ { 0 } \left( 1 + \gamma \Delta T \right)\]

    Следует, что температурный коэффициент равен

    \[\gamma = \frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } \; ,\]

    При малых изменениях температуры отношение приращений следует заменить соответствующей производной\(^1\) \(\gamma = \frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } = \frac { \sigma ^ { \prime } } { \sigma _ { 0 } }\).

    При повышении температуры увеличивается концентрация носителей тока, что и приводит к увеличению проводимости. Так проводимость пропорциональна концентрации носителей, то

    \[\frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } = \frac { \sigma ^ { \prime } } { \sigma _ { 0 } } = \frac { 1 } { \overline { { { n } } } } \frac { \Delta \overline { { { n } } } } { \Delta T } = \frac { \overline { { { n } } } ^ { \prime } } { \overline { { { n } } } } \, .\tag{8}\]

    Выражение для равновесной концентрации приведено в условии задачи. Указанное отношение проще вычислить с помощью известного математического приема (хотя можно пользоваться и простыми правилами вычисления производных):

    \[\overline { { { n } } } = A T ^ { 3 / 2 } \exp \left( - \frac { E _ { g } } { k T } \right) \quad \Rightarrow \quad \ln \overline { { { n } } } = \ln A + \frac { 3 } { 2 } \ln T - \frac { E _ { g } } { k T } \quad \Rightarrow\]

    \[\frac { \overline { { { n } } } ^ { \prime } } { \overline { { { n } } } } = \frac { 3 } { 2 } \frac { 1 } { T } + \frac { E _ { g } } { k T ^ { 2 } } = \frac { 1 } { T } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { E _ { g } } { k T } \right)\tag{9}\]

    При расчетах необходимо правильно перевести электрон-вольты в джоули с помощью соотношения \(E _ { g } \left[ \textit { Дж} \right] = e E _ { g } \left[ \textit { эВ} \right]\):

    \[\gamma = \frac { 1 } { T } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { E _ { g } } { k T } \right) = \frac { 1 } { 3 0 0 K } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { 1 { , } 6 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \cdot 1 { , } 1 2 } { 1 { , } 3 8 \cdot 1 0 ^ { - 2 3 } \cdot 3 0 0 } \right) \approx 0 { , } 1 5 \, K ^ { - 1 } \, .\tag{10}\]

    3.1.1 Красной границе фотоэффекта соответствую фотоны, энергия которых равна ширине энергетической зоны

    \[h \nu _ { \kappa p . } = E _ { g } \, .\tag{11}\]

    Расчет длины волны не представляет труда:

    \[\frac { h c } { \lambda _ { \kappa p . } } = E _ { g } \quad \Rightarrow \quad \lambda _ { \kappa p . } = \frac { h c } { E _ { g } } = \frac { 6 { , } 6 3 \cdot 1 0 ^ { - 3 4 } \, \textit { Дж} \cdot \textit { с } \cdot 3 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { 8 } \, \frac { \textit { м} } { \textit { с} } } { 1 { , } 6 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \, \textit { Кл} \cdot 1 { , } 1 2 \textit { эВ} } \approx 1 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { - 6 } \, \textit { м} = 1 { , } 0 \, \textit { мкм}\tag{12}\]

    3.1.2 Преобразуем выражение для коэффициента поглощения к виду, удобному для дальнейших расчетов:

    —

    \(^1\) Для тех, кто не знаком с производными: можно также воспользоваться приближенными формулами для расчета изменения функций.

    \[\alpha = B \left( h \nu - E _ { g } \right) ^ { 2 } = B E _ { g } ^ { 2 } \left( \frac { h c } { E _ { g } \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } = b \left( \frac { \lambda _ { \kappa p . } } { \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } ,\tag{13}\]

    Здесь \(b = B E _ { g } ^ { 2 } = 3 { , } 9 \cdot 1 0 ^ { 3 } \frac { c { \mathcal { M } } ^ { - 1 } } { { \ni } B ^ { 2 } } \left( 1 { , } 1 2 { \ni } B \right) ^ { 2 } = 4 { , } 9 \cdot 1 0 ^ { 5 } \, { \scriptscriptstyle M } ^ { - 1 }\) - постоянная величина; \(\lambda _ { \kappa p . } = 1 { , } 0 \, { \scriptscriptstyle M K M }\) - длина волны красной границы фотоэффекта.

    3.1.3 В единицу времени на пластинку падает \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S\) фотонов ( \(S\) - площадь поверхности), из них \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S \cdot \alpha h\) поглощается, что приводит к появлению \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S \cdot \alpha h \cdot \eta\) электронно-дырочных пар. Следовательно, в единице объема в единицу времени появляется \(G _ { r } = \frac { 1 } { V } \left( \frac { I _ { 0 } } { h \nu } S h \alpha \eta \right) = \frac { I _ { 0 } \lambda } { h c } \alpha \eta\) пар электронов (это есть скорость генерации).

    3.2.1 Концентрация электронов в проводнике изменяется в ходе генерации и регенерации, поэтому уравнение изменения концентрации может быть записано в виде

    \[\frac { \Delta n } { \Delta t } = G _ { T } + G _ { r } - R\tag{14}\]

    3.2.2 При отсутствии освещения скорость изменения концентрации носителей тока можно представить в форме уравнения

    \[\frac { \Delta n } { \Delta t } = G _ { T } - R \, ,\tag{15}\]

    Представим концентрации носителей тока в виде \(n = \overline { { n } } + n _ { 1 }\). Скорость рекомбинации пропорциональна квадрату концентрации свободных электронов, поэтому запишем \(R = r n ^ { 2 } = r \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) ^ { 2 }\), где \(r\) - некоторый коэффициент пропорциональности. Теперь уравнение (11) принимает вид

    \[\frac { \Delta \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) } { \Delta t } = G _ { T } - r \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) ^ { 2 } = G _ { T } - r \overline { { n } } ^ { 2 } - 2 r \overline { { n } } \cdot n _ { 1 } - r n _ { 1 } ^ { 2 } \, .\tag{16}\]

    При \(\overline { { n } } > > n _ { 1 }\) можно пренебречь слагаемым пропорциональным \(n _ { 1 } ^ { 2 }\). Кроме того, равновесная концентрация носителей удовлетворяет условию \(G _ { T } = r \overline { { n } } ^ { 2 }\). Таким образом, уравнение (12) приобретает требуемый вид

    \[\frac { \Delta n _ { 1 } } { \Delta t } = - 2 r \overline { { n } } \cdot n _ { 1 } \, .\tag{17}\]

    Введенный коэффициент рекомбинации выражается через время жизни электронно-дырочной пары

    \[2 r \overline { { n } } = \frac { 1 } { \tau } \quad \Rightarrow \quad r = \frac { 1 } { 2 \overline { { n } } \, \tau } \, .\tag{18}\]

    Таким образом, скорость тепловой генерации выражается формулой

    \[G _ { T } = r \overline { { n } } ^ { 2 } = \frac { 1 } { 2 \tau } \overline { { n } } \ ,\tag{19}\]

    а скорость рекомбинации

    \[R = r n ^ { 2 } = \frac { n ^ { 2 } } { 2 \overline { { n } } \, \tau } \ .\tag{20}\]

    3.2.4 В стационарном режиме концентрация свободных электронов не изменяется, следовательно, в этом случае выполняется соотношение

    \[G_T + G_r - R = 0.\tag{21}\]

    Подставим в это уравнение полученные ранее выражения для скоростей потоков и коэффициента поглощения

    \[\frac{1}{2\tau}\bar{n} + \frac{I_0\lambda}{hc}\alpha\eta - \frac{n^2}{2\bar{n}\tau} = 0.\]

    Из этого уравнения получаем

    \[\frac{n^2}{\bar{n}^2} = 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\alpha\eta\tau = 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\eta\tau b\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2.\]

    Для упрощения расчетов перепишем данное выражение в виде

    \[\begin{aligned} \frac{n^2}{\bar{n}^2} &= 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\eta\tau b\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = \\ &= 1 + 2\frac{I_{00}\lambda_{\text{кр.}}}{hc\bar{n}}\eta\tau b\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = 1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 \end{aligned}\tag{22}\]

    где в одном безразмерном коэффициенте объединились все параметры кремния

    \[W = 2\frac{I_{00}\lambda_{\text{кр.}}}{hc\bar{n}}\eta\tau b = 2\frac{10^4\,\frac{\text{Вт}}{\text{м}^2} \cdot 1{,}0 \cdot 10^{-6}\,\text{м}}{6{,}63 \cdot 10^{-34}\,\text{Дж}\cdot\text{с} \cdot 3{,}0 \cdot 10^8\,\frac{\text{м}}{\text{с}} \cdot 1{,}0 \cdot 10^{16}\,\text{м}^{-3}} 0{,}1 \cdot 3{,}0 \cdot 10^{-3}\,\text{с} \cdot 4{,}9 \cdot 10^5\,\text{м}^{-1} =\]

    \[= 1{,}5 \cdot 10^9\]

    (здесь \(I_{00} = 1\,\frac{\text{Вт}}{\text{см}^2} = 10^4\,\frac{\text{Вт}}{\text{м}^2}\) - единица измерения интенсивности). Окончательно получаем искомую формулу

    \[\frac{n}{\bar{n}} = \sqrt{1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2}.\tag{23}\]

    3.3.1 Сила тока через фоторезистор при постоянном напряжении на нем пропорциональна проводимости фоторезистора, которая в свою очередь пропорциональна концентрации носителей тока. Следовательно, формула (19) также описывает изменение силы тока

    \[\frac{i}{i_0} = \sqrt{1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2}.\tag{24}\]

    3.3.2 Подставляя значение длины волны в выражение (20), вычислим значение коэффициента при интенсивности

    \[W\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = 1{,}5 \cdot 10^9 \cdot 0{,}9 \cdot \left(\frac{1}{0{,}9} - 1\right)^2 \approx 1{,}67 \cdot 10^7.\]

    Такое большое значение этого коэффициента позволяет пренебречь 1 под корнем, то есть сила тока пропорциональна корню квадратному из интенсивности падающего света. График этой зависимости показан на рисунке.

    3.3.3 В данном случае требуется построить график функции

    \[\frac { i } { i _ { 0 } } = \sqrt { 1 + 1 { , } 5 \cdot 1 0 ^ { 7 } \, \frac { \lambda } { \lambda _ { \kappa p . } } \left( \frac { \lambda _ { \kappa p . } } { \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } } \ .\tag{25}\]

    При построении следует учесть, что при \(\lambda > \lambda _ { \kappa p . }\) фотоэффект отсутствует, поэтому в этой

    Рисунок

    области \(i = i _ { 0 }\). При \(\lambda < \lambda _ { \kappa p . }\) искомая зависимость практически линейна (см. рисунок).

    Прочитали решение — спросите себя, как можно было до этого додуматься. А через день-два решите задачу заново, не подглядывая.

    Вся олимпиада на сайте

    Страница задачиНашли ошибку?

Похожие задачи