Полупроводник
В данном задании вам предстоит теоретически описать электрическую проводимость чистого (без примесей) полупроводника и ее зависимость от температуры и освещенности. Рассматриваемые ниже явления находят широчайшее применение в современных электронных приборах, в частности терморезисторах и фоторезисторах. В качестве примера полупроводника используется кристаллический кремний (c-Si), модель его кристаллической решетки показана на рисунке. Для численных расчетов используются характеристики именно этого вещества. В задаче используются традиционные обозначения, принятые в физике полупроводников.
1.Введение – напоминание.

Для описания протекания электрического тока внутри вещества удобно пользоваться такой характеристикой, как плотность электрического тока \(\vec{j}\). Плотность тока определяется как количество электрического заряда, протекающего через площадку единичной площади, перпендикулярной направлению движения зарядов в единицу времени (или как сила электрического тока, протекающего через площадку единичной площади):
\[j = \frac{\Delta q}{\Delta S \cdot \Delta t} = \frac{\Delta I}{\Delta t}.\tag{1}\]
Плотность тока является векторной величиной, ее направление совпадает с направлением движения положительно заряженных частиц.

1.1 Пусть электрический ток равномерно протекает вдоль однородного цилиндра. Используя закон Ома для участка цепи, покажите, что плотность электрического тока внутри цилиндра рассчитывается по формуле
\[\vec{j} = \sigma \vec{E},\tag{2}\]
где \(\vec{E}\) - напряженность электрического поля внутри цилиндра, \(\sigma\) - удельная проводимость материала цилиндра (величина обратная удельному электрическому сопротивлению \(\sigma = \frac{1}{\rho}\)).

1.2 Пусть одинаковые частицы (заряд каждой равен \(q\)) движутся с одинаковыми скоростями \(\vec{v}\). Концентрация частиц в потоке равна \(n\). Чему равна плотность электрического тока в данном потоке частиц?
1.3 Покажите, что средняя скорость направленного движения электронов в металле при протекании постоянного электрического тока пропорциональна напряженности электрического поля в металле
\[\langle v \rangle = \mu E.\tag{3}\]
где коэффициент пропорциональности \(\mu\) называется подвижностью электронов. Выразите удельную проводимость металла через подвижность электронов и их концентрацию в металле.
2. Терморезистор.

Энергетические состояния электронов в кристалле состоят из нескольких зон. Верхняя заполненная зона называется валентной зоной, а следующая за ней зона возможных состояний – зоной проводимости. Между ними располагается запрещенная зона – электроны в кристалле не могут иметь такие значения энергии! Разность энергий между верхним краем валентной зоны и нижним краем зоны проводимости называется шириной запрещенной зоны и обозначается \(E_g\).
Электроны, находящиеся в валентной зоне, «привязаны» к своим атомам и не могут перемещаться по кристаллу, следовательно, не могут быть носителями электрического тока. Электроны, находящиеся в зоне проводимости являются свободными, поэтому служат носителями электрического тока.
В рассматриваемом кристаллическом кремнии при температуре абсолютного нуля все электроны находятся в валентной зоне, зона проводимости пуста, поэтому в этом состоянии полупроводник является изолятором. При повышении температуры вследствие теплового движения некоторые электроны могут переходить из валентной зоны в зону проводимости. В этом случае в зоне проводимости появляется свободный электрон, а в валентной зоне дырка. Скорость генерации \(G_T\) электронно-дырочных пар (число рождающихся в единице объема в единицу времени электронно-дырочных пар) в заданном полупроводнике зависит только от температуры.
Таким образом, носителями электрического тока в полупроводниках являются свободные электроны и дырки. Причем дырки можно рассматривать как частицы с положительным зарядом равным элементарному заряду. Концентрация свободных электронов в полупроводнике обозначается \(n_i\), концентрация дырок \(p_i\). Однако в чистом полупроводнике (таком, как рассматривается в данной задаче) концентрации электронов и дырок одинаковы, поэтому используйте единое обозначение для их концентрации \(n_i = p_i = n\). Возможен и процесс, обратный рождению электронно-дырочной пары – электрон может перейти из зоны проводимости в валентную зону, при этом пара электрон-дырка исчезает. Такой процесс называется рекомбинацией. Очевидно, что скорость рекомбинации \(R\) (число исчезающих в единице объема в единицу времени электронно-дырочных пар) пропорциональна произведению концентраций электронов и дырок.
При постоянной температуре полупроводника устанавливается динамическое равновесие – среднее число рождающихся электронно-дырочных пара становится равным числу пар, исчезающих вследствие рекомбинации: \(G_T = R\).
Концентрация свободных электронов в этом случае называется равновесной концентрацией, ее обозначим \(\overline{n}\). Равновесная концентрация свободных электронов зависит только от абсолютной температуры \(T\) и определяется формулой
\[\overline{n}(T) = A T^{3/2} \exp\left(-\frac{E_g}{kT}\right),\tag{4}\]
где \(k\) - постоянная Больцмана; \(A\) - постоянная для данного вещества величина; \(\exp(x) = e^x\) - экспоненциальная функция.
2.1 Используя физические характеристики кристаллического кремния, вычислите его удельную электрическую проводимость при комнатной температуре \(\sigma_0\).
2.2 При малом изменении температуры \(\Delta T\) можно считать, что проводимость кремния изменяется по линейному закону
\[\sigma = \sigma_0 (1 + \gamma \Delta T).\tag{5}\]
Рассчитайте температурный коэффициент проводимости \(\gamma\) для кристаллического кремния при комнатной температуре. Изменением подвижностей электронов и дырок при изменении температуры можно пренебречь.
3. Фоторезистор.

Электроны могут переходить в зону проводимости и при поглощении кванта света, в этом случае также образуется пара носителей тока «свободный электрон – дырка». Это явление называется внутренним фотоэффектом. На этом принципе работают полупроводниковые приборы для измерения интенсивности света (в том числе инфракрасного диапазона) – фоторезисторы.
Если энергия фотона превышает энергетическую ширину запрещенной зоны, то он может поглотиться, в некоторых случаях поглощения фотона образуется электронно-дырочная пара. Отношение числа рожденных пар к числу поглощенных фотонов называется квантовым выходом фотоэффекта (обозначим эту величину \(\eta\)).
Поглощение света характеризуется коэффициентом поглощения \(\alpha\). Величина \(\alpha \Delta x\) (при \(\alpha \Delta x \ll 1\)) равна отношению числа фотонов, поглощенных в тонком слое вещества толщиной \(\Delta x\), к числу фотонов падающих на этот слой.
Для кристаллического кремния зависимость коэффициента поглощения от частоты падающего света описывается приближенной формулой
\[\alpha(\nu) = B(h\nu - E_g)^2,\tag{6}\]
где \(h\nu\) - энергия фотона (в электрон-вольтах), \(B = 3{,}9 \cdot 10^3 \, \text{см}^{-1} \cdot \text{эВ}^{-2}\) - эмпирическая постоянная.

Фоторезистор представляет собой тонкий кристаллический кремниевый слой. К краям слоя подведены металлические токопроводящие контакты с внешними выводами. Пластинка полностью освещается светом, падающим на нее нормально сверху. Толщина полупроводникового слоя \(h\) достаточно мала, так что в рассматриваемом далее спектральном диапазоне выполняется условие \(\alpha h \ll 1\). Температуру пластинки с полупроводниковым слоем можно считать постоянной и равной комнатной.
3.1.1 Вычислите длину волны красной границы фотоэффекта \(\lambda_{\text{кр.}}\).
3.1.2 Для упрощения дальнейших расчетов выразите коэффициент поглощения кремния как функцию от величины \(\lambda / \lambda_{\text{кр.}}\) (где \(\lambda\) - длина волны падающего света): \(\alpha = F(\lambda / \lambda_{\text{кр.}})\).
3.1.3 Вычислите скорость генерации электронно-дырочных пар посредством фотоэффекта \(G_r\). Выразите данную величину через характеристики падающего света (длину волны \(\lambda\), интенсивность \(I_0\) - энергию, падающую в единицу времени на площадку единичной площади) и необходимые вам характеристики кремния, приведенные в справочной таблице.
3.2.1 Запишите уравнение, описывающее скорость изменения концентрации свободных электронов \(\frac{\Delta n}{\Delta t}\) в полупроводнике, освещаемом светом. Учтите, что электронно-дырочные пары появляются не только под действием теплового движения, но и вследствие фотоэффекта.
3.2.2 Пусть в результате кратковременного светового импульса концентрация свободных электронов превысила термодинамическую равновесную концентрацию \(\bar{n}\) на малую величину \(n_1\) (то есть \(n = \bar{n} + n_1\), причем \(\bar{n} \gg n_1\)). Покажите, что изменение этого отклонения \(\Delta n_1\) за малый промежуток времени \(\Delta t\) подчиняется уравнению
\[\Delta n_1 = -\frac{n_1}{\tau} \Delta t,\tag{7}\]
где \(\tau\) - некоторая постоянная, называемая временем жизни электронно-дырочной пары (ее численное значение для кристаллического кремния приведено в Справочной таблице).
3.2.3 Выразите скорость тепловой генерации \(G_T\) и скорость рекомбинации \(R\) через концентрацию носителей тока и известные параметры кремния, приведенные в Справочной таблице.
3.2.4 Пусть фоторезистор непрерывно освещается светом, в этом случае концентрация носителей достигает некоторого стационарного значения. Найдите отношение этой концентрации к равновесной концентрации \(\frac{n}{\overline{n}}\), как функцию длины волны (лучше \(\lambda/\lambda_{\text{кр.}}\)) и интенсивности падающего излучения \(I_0\).
3.3 Измерение интенсивности света. Фоторезистор подключают к источнику постоянного напряжения и измеряют силу тока через него. При отсутствии освещения сила тока в цепи равна \(i_0\) (темновой ток).
3.3.1 Найдите зависимость силы тока в цепи от характеристик падающего излучения (длины волны и интенсивности).
3.3.2 Постройте примерный график зависимости отношения силы тока в цепи к темновому току \(i/i_0\) от интенсивности падающего света (в диапазоне от нуля до \(0{,}1 \frac{\text{Вт}}{\text{см}^2}\)) с длиной волны \(\lambda = 0{,}90\lambda_{\text{кр.}}\).
3.3.3. Постройте примерный график зависимости \(i/i_0\) от длины волны падающего света в диапазоне от \(\lambda_1 = 0{,}8 \text{мкм}\) до \(\lambda_2 = 1{,}1 \text{мкм}\). Считайте, что интенсивность падающего излучения постоянна и равна \(I_0 = 1{,}0 \cdot 10^{-2} \frac{\text{Вт}}{\text{см}^2}\).
Справочная таблица.}
Комнатная температура \(T_0 = 300 \text{К}\) Заряд электрона \(e = 1{,}60 \cdot 10^{-19} \text{Кл}\) Скорость света в вакууме \(c = 3{,}00 \cdot 10^8 \text{м/с}\) Постоянная Больцмана \(k = 1{,}38 \cdot 10^{-23} \text{Дж} \cdot \text{К}^{-1}\) Постоянная Планка \(h = 6{,}63 \cdot 10^{-34} \text{Дж} \cdot \text{с}\) Характеристики кристаллического кремния Ширина запрещенной зоны \(E_g = 1{,}12 \text{эВ}\) Равновесная концентрация свободных электронов при комнатной температуре \(\overline{n} = 1{,}0 \cdot 10^{10} \text{см}^{-3}\) Подвижность свободных электронов \(\mu_n = 1{,}4 \cdot 10^3 \text{см}^2 \cdot \text{В}^{-1} \cdot \text{с}^{-1}\) Подвижность дырок \(\mu_p = 0{,}45 \cdot 10^3 \text{см}^2 \cdot \text{В}^{-1} \cdot \text{с}^{-1}\) Квантовый выход внутреннего фотоэффекта \(\eta = 0{,}10\) Время жизни электронно-дырочной пары \(\tau = 3{,}0 \cdot 10^{-3} \text{с}\) ▶ПодсказкаСкрыть: подсказка
ПодсказкаПроводимость собственного полупроводника складывается из вклада электронов и дырок, а их равновесная концентрация зависит от температуры по экспоненте — температурный коэффициент удобно искать через производную логарифма концентрации. Для фоторезистора запишите баланс: тепловая генерация плюс световая минус рекомбинация, пропорциональная квадрату концентрации.
▶ОтветСкрыть: ответ
Ответ1.1) \(\vec j=\sigma\vec E\); 1.2) \(j=qnv\); 1.3) \(\sigma=en\mu\); 2.1) \(\sigma_0=e\bar n(\mu_n+\mu_p)\approx3{,}0\cdot10^{-4}\text{ Ом}^{-1}\text{м}^{-1}\); 2.2) \(\gamma=\dfrac1T\Bigl(\dfrac32+\dfrac{E_g}{kT}\Bigr)\approx0{,}15\text{ К}^{-1}\); 3.1.1) \(\lambda_{\text{кр.}}=\dfrac{hc}{E_g}\approx1{,}0\) мкм; 3.1.2) \(\alpha=b\Bigl(\dfrac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda}-1\Bigr)^2\), \(b=BE_g^2\approx4{,}9\cdot10^5\text{ м}^{-1}\); 3.1.3) \(G_r=\dfrac{I_0\lambda}{hc}\alpha\eta\); 3.2.1) \(\dfrac{\Delta n}{\Delta t}=G_T+G_r-R\); 3.2.2) \(\dfrac{\Delta n_1}{\Delta t}=-2r\bar n\,n_1\), \(r=\dfrac{1}{2\bar n\tau}\); 3.2.3) \(G_T=\dfrac{\bar n}{2\tau}\), \(R=\dfrac{n^2}{2\bar n\tau}\); 3.2.4) \(\dfrac{n}{\bar n}=\sqrt{1+W\dfrac{I_0}{I_{00}}\dfrac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\Bigl(\dfrac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda}-1\Bigr)^2}\), \(W\approx1{,}5\cdot10^9\); 3.3.1) \(\dfrac{i}{i_0}=\dfrac{n}{\bar n}\) (та же формула); 3.3.2) \(i/i_0\approx\sqrt{1{,}67\cdot10^7\,I_0/I_{00}}\propto\sqrt{I_0}\); 3.3.3) \(i/i_0=1\) при \(\lambda>\lambda_{\text{кр.}}\), при \(\lambda<\lambda_{\text{кр.}}\) зависимость близка к линейной.
▶РешениеСкрыть: решение
Решение
1.1 По закону Ома для участка цепи сила тока равна
\[I = \frac{U}{R}.\tag{1}\]
Подставляя известные формулы: — сопротивления проводника \(R = \rho \frac{L}{S}\);
— связи напряжения и напряженности \(U = EL\); — связи силы и плотности тока \(I = jS\)
в уравнение (1), получим \(jS = \frac{EL}{\rho \frac{L}{S}}\), откуда следует, что \(j = \frac{1}{\rho} E = \sigma E\). Очевидно, что направление движения заряженных частиц совпадает с направлением вектора напряженности электрического поля, поэтому
\[\vec{j} = \sigma \vec{E}.\tag{2}\]

1.2 За время \(\Delta t\) площадку площадью \(\Delta S\), расположенную перпендикулярно векторам скоростей частиц, пересекут частицы, находящиеся от площадки на расстоянии \(v \Delta t\). Объем области, опирающейся на выделенную площадку, частицы в котором пересекут площадку равен \(\Delta V = v \Delta t \cdot \Delta S\), число частиц в нем \(N = n \Delta V = n v \Delta t \cdot \Delta S\), они переносят заряд \(\Delta Q = q N = q n v \Delta t \cdot \Delta S\). По определению плотности тока, получим
\[j = \frac{\Delta Q}{\Delta t \cdot \Delta S} = q n v.\tag{3}\]
1.3 Приравнивая выражения для плотности тока (2) и (3), получим
\[e n v = \sigma E.\tag{4}\]
Из этой формулы выразим среднюю скорость движения частиц \(v = \frac{\sigma}{e n} E\). Сравнивая это выражение с определением подвижности \(\langle v \rangle = \mu E\), находим, что проводимость металла находится по формуле
\[\sigma = e n \mu.\tag{5}\]
2.1 Для вычисления удельной проводимости полупроводника необходимо учесть, что ток обусловлен движением как свободных электронов, так и дырок. Не смотря на то, что электроны и дырки движутся в противоположных направлениях, электрические токи, обусловленные их движением, направлены в одну сторону (в сторону движения положительно заряженных дырок). С помощью формулы (5) находим
\[\sigma_0 = e (n_i \mu_n + p_i \mu_p) = e \bar{n} (\mu_n + \mu_p).\tag{6}\]
При подстановке численных значений из Таблицы справочных материалов их необходимо перевести в единицы системы СИ:
\[\sigma _ { 0 } = e \overline { { { n } } } \left( \mu _ { n } + \mu _ { p } \right) = 1 { , } 6 0 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \, \textit { Кл } \cdot 1 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { 1 6 } \, \textit { м } ^ { - 3 } \left( 1 { , } 4 \cdot 1 0 ^ { 3 } + 0 { , } 4 5 \cdot 1 0 ^ { 3 } \right) \cdot 1 0 ^ { - 4 } \, \frac { \textit { м } ^ { 2 } } { \textit { В } \cdot \textit { с } } \approx\tag{7}\]
\[\approx 3 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { - 4 } \, O \textit { м } ^ { - 1 } \cdot \textit { м } ^ { - 1 }\]
2.2 Из приведенной в условии формулы
\[\sigma = \sigma _ { 0 } \left( 1 + \gamma \Delta T \right)\]
Следует, что температурный коэффициент равен
\[\gamma = \frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } \; ,\]
При малых изменениях температуры отношение приращений следует заменить соответствующей производной\(^1\) \(\gamma = \frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } = \frac { \sigma ^ { \prime } } { \sigma _ { 0 } }\).
При повышении температуры увеличивается концентрация носителей тока, что и приводит к увеличению проводимости. Так проводимость пропорциональна концентрации носителей, то
\[\frac { 1 } { \sigma _ { 0 } } \frac { \Delta \sigma } { \Delta T } = \frac { \sigma ^ { \prime } } { \sigma _ { 0 } } = \frac { 1 } { \overline { { { n } } } } \frac { \Delta \overline { { { n } } } } { \Delta T } = \frac { \overline { { { n } } } ^ { \prime } } { \overline { { { n } } } } \, .\tag{8}\]
Выражение для равновесной концентрации приведено в условии задачи. Указанное отношение проще вычислить с помощью известного математического приема (хотя можно пользоваться и простыми правилами вычисления производных):
\[\overline { { { n } } } = A T ^ { 3 / 2 } \exp \left( - \frac { E _ { g } } { k T } \right) \quad \Rightarrow \quad \ln \overline { { { n } } } = \ln A + \frac { 3 } { 2 } \ln T - \frac { E _ { g } } { k T } \quad \Rightarrow\]
\[\frac { \overline { { { n } } } ^ { \prime } } { \overline { { { n } } } } = \frac { 3 } { 2 } \frac { 1 } { T } + \frac { E _ { g } } { k T ^ { 2 } } = \frac { 1 } { T } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { E _ { g } } { k T } \right)\tag{9}\]
При расчетах необходимо правильно перевести электрон-вольты в джоули с помощью соотношения \(E _ { g } \left[ \textit { Дж} \right] = e E _ { g } \left[ \textit { эВ} \right]\):
\[\gamma = \frac { 1 } { T } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { E _ { g } } { k T } \right) = \frac { 1 } { 3 0 0 K } \left( \frac { 3 } { 2 } + \frac { 1 { , } 6 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \cdot 1 { , } 1 2 } { 1 { , } 3 8 \cdot 1 0 ^ { - 2 3 } \cdot 3 0 0 } \right) \approx 0 { , } 1 5 \, K ^ { - 1 } \, .\tag{10}\]
3.1.1 Красной границе фотоэффекта соответствую фотоны, энергия которых равна ширине энергетической зоны
\[h \nu _ { \kappa p . } = E _ { g } \, .\tag{11}\]
Расчет длины волны не представляет труда:
\[\frac { h c } { \lambda _ { \kappa p . } } = E _ { g } \quad \Rightarrow \quad \lambda _ { \kappa p . } = \frac { h c } { E _ { g } } = \frac { 6 { , } 6 3 \cdot 1 0 ^ { - 3 4 } \, \textit { Дж} \cdot \textit { с } \cdot 3 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { 8 } \, \frac { \textit { м} } { \textit { с} } } { 1 { , } 6 \cdot 1 0 ^ { - 1 9 } \, \textit { Кл} \cdot 1 { , } 1 2 \textit { эВ} } \approx 1 { , } 0 \cdot 1 0 ^ { - 6 } \, \textit { м} = 1 { , } 0 \, \textit { мкм}\tag{12}\]
3.1.2 Преобразуем выражение для коэффициента поглощения к виду, удобному для дальнейших расчетов:
—
\(^1\) Для тех, кто не знаком с производными: можно также воспользоваться приближенными формулами для расчета изменения функций.
\[\alpha = B \left( h \nu - E _ { g } \right) ^ { 2 } = B E _ { g } ^ { 2 } \left( \frac { h c } { E _ { g } \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } = b \left( \frac { \lambda _ { \kappa p . } } { \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } ,\tag{13}\]
Здесь \(b = B E _ { g } ^ { 2 } = 3 { , } 9 \cdot 1 0 ^ { 3 } \frac { c { \mathcal { M } } ^ { - 1 } } { { \ni } B ^ { 2 } } \left( 1 { , } 1 2 { \ni } B \right) ^ { 2 } = 4 { , } 9 \cdot 1 0 ^ { 5 } \, { \scriptscriptstyle M } ^ { - 1 }\) - постоянная величина; \(\lambda _ { \kappa p . } = 1 { , } 0 \, { \scriptscriptstyle M K M }\) - длина волны красной границы фотоэффекта.
3.1.3 В единицу времени на пластинку падает \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S\) фотонов ( \(S\) - площадь поверхности), из них \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S \cdot \alpha h\) поглощается, что приводит к появлению \(\frac { I _ { 0 } } { h \nu } S \cdot \alpha h \cdot \eta\) электронно-дырочных пар. Следовательно, в единице объема в единицу времени появляется \(G _ { r } = \frac { 1 } { V } \left( \frac { I _ { 0 } } { h \nu } S h \alpha \eta \right) = \frac { I _ { 0 } \lambda } { h c } \alpha \eta\) пар электронов (это есть скорость генерации).
3.2.1 Концентрация электронов в проводнике изменяется в ходе генерации и регенерации, поэтому уравнение изменения концентрации может быть записано в виде
\[\frac { \Delta n } { \Delta t } = G _ { T } + G _ { r } - R\tag{14}\]
3.2.2 При отсутствии освещения скорость изменения концентрации носителей тока можно представить в форме уравнения
\[\frac { \Delta n } { \Delta t } = G _ { T } - R \, ,\tag{15}\]
Представим концентрации носителей тока в виде \(n = \overline { { n } } + n _ { 1 }\). Скорость рекомбинации пропорциональна квадрату концентрации свободных электронов, поэтому запишем \(R = r n ^ { 2 } = r \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) ^ { 2 }\), где \(r\) - некоторый коэффициент пропорциональности. Теперь уравнение (11) принимает вид
\[\frac { \Delta \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) } { \Delta t } = G _ { T } - r \left( \overline { { n } } + n _ { 1 } \right) ^ { 2 } = G _ { T } - r \overline { { n } } ^ { 2 } - 2 r \overline { { n } } \cdot n _ { 1 } - r n _ { 1 } ^ { 2 } \, .\tag{16}\]
При \(\overline { { n } } > > n _ { 1 }\) можно пренебречь слагаемым пропорциональным \(n _ { 1 } ^ { 2 }\). Кроме того, равновесная концентрация носителей удовлетворяет условию \(G _ { T } = r \overline { { n } } ^ { 2 }\). Таким образом, уравнение (12) приобретает требуемый вид
\[\frac { \Delta n _ { 1 } } { \Delta t } = - 2 r \overline { { n } } \cdot n _ { 1 } \, .\tag{17}\]
Введенный коэффициент рекомбинации выражается через время жизни электронно-дырочной пары
\[2 r \overline { { n } } = \frac { 1 } { \tau } \quad \Rightarrow \quad r = \frac { 1 } { 2 \overline { { n } } \, \tau } \, .\tag{18}\]
Таким образом, скорость тепловой генерации выражается формулой
\[G _ { T } = r \overline { { n } } ^ { 2 } = \frac { 1 } { 2 \tau } \overline { { n } } \ ,\tag{19}\]
а скорость рекомбинации
\[R = r n ^ { 2 } = \frac { n ^ { 2 } } { 2 \overline { { n } } \, \tau } \ .\tag{20}\]
3.2.4 В стационарном режиме концентрация свободных электронов не изменяется, следовательно, в этом случае выполняется соотношение
\[G_T + G_r - R = 0.\tag{21}\]
Подставим в это уравнение полученные ранее выражения для скоростей потоков и коэффициента поглощения
\[\frac{1}{2\tau}\bar{n} + \frac{I_0\lambda}{hc}\alpha\eta - \frac{n^2}{2\bar{n}\tau} = 0.\]
Из этого уравнения получаем
\[\frac{n^2}{\bar{n}^2} = 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\alpha\eta\tau = 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\eta\tau b\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2.\]
Для упрощения расчетов перепишем данное выражение в виде
\[\begin{aligned} \frac{n^2}{\bar{n}^2} &= 1 + 2\frac{I_0\lambda}{hc\bar{n}}\eta\tau b\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = \\ &= 1 + 2\frac{I_{00}\lambda_{\text{кр.}}}{hc\bar{n}}\eta\tau b\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = 1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 \end{aligned}\tag{22}\]
где в одном безразмерном коэффициенте объединились все параметры кремния
\[W = 2\frac{I_{00}\lambda_{\text{кр.}}}{hc\bar{n}}\eta\tau b = 2\frac{10^4\,\frac{\text{Вт}}{\text{м}^2} \cdot 1{,}0 \cdot 10^{-6}\,\text{м}}{6{,}63 \cdot 10^{-34}\,\text{Дж}\cdot\text{с} \cdot 3{,}0 \cdot 10^8\,\frac{\text{м}}{\text{с}} \cdot 1{,}0 \cdot 10^{16}\,\text{м}^{-3}} 0{,}1 \cdot 3{,}0 \cdot 10^{-3}\,\text{с} \cdot 4{,}9 \cdot 10^5\,\text{м}^{-1} =\]
\[= 1{,}5 \cdot 10^9\]
(здесь \(I_{00} = 1\,\frac{\text{Вт}}{\text{см}^2} = 10^4\,\frac{\text{Вт}}{\text{м}^2}\) - единица измерения интенсивности). Окончательно получаем искомую формулу
\[\frac{n}{\bar{n}} = \sqrt{1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2}.\tag{23}\]
3.3.1 Сила тока через фоторезистор при постоянном напряжении на нем пропорциональна проводимости фоторезистора, которая в свою очередь пропорциональна концентрации носителей тока. Следовательно, формула (19) также описывает изменение силы тока
\[\frac{i}{i_0} = \sqrt{1 + W\frac{I_0}{I_{00}}\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2}.\tag{24}\]
3.3.2 Подставляя значение длины волны в выражение (20), вычислим значение коэффициента при интенсивности
\[W\frac{\lambda}{\lambda_{\text{кр.}}}\left(\frac{\lambda_{\text{кр.}}}{\lambda} - 1\right)^2 = 1{,}5 \cdot 10^9 \cdot 0{,}9 \cdot \left(\frac{1}{0{,}9} - 1\right)^2 \approx 1{,}67 \cdot 10^7.\]
Такое большое значение этого коэффициента позволяет пренебречь 1 под корнем, то есть сила тока пропорциональна корню квадратному из интенсивности падающего света. График этой зависимости показан на рисунке.
3.3.3 В данном случае требуется построить график функции
\[\frac { i } { i _ { 0 } } = \sqrt { 1 + 1 { , } 5 \cdot 1 0 ^ { 7 } \, \frac { \lambda } { \lambda _ { \kappa p . } } \left( \frac { \lambda _ { \kappa p . } } { \lambda } - 1 \right) ^ { 2 } } \ .\tag{25}\]
При построении следует учесть, что при \(\lambda > \lambda _ { \kappa p . }\) фотоэффект отсутствует, поэтому в этой

области \(i = i _ { 0 }\). При \(\lambda < \lambda _ { \kappa p . }\) искомая зависимость практически линейна (см. рисунок).
Прочитали решение — спросите себя, как можно было до этого додуматься. А через день-два решите задачу заново, не подглядывая.
Похожие задачи
- Фотоэффект и волны Белорусская 2013/14, заключительный этап, 11 кл.
- Фотоэффект: пятно фотоэлектронов «Газпром» 2023/24, заключительный этап, 11 кл.
- Исследование фотодиода Санкт-Петербургская 2013/14, заключительный этап, 11 кл.
- Фотоэлектронный умножитель Белорусская 2018/19, заключительный этап, 11 кл.
- Ультратонкие плёнки «Надежда энергетики» 2022/23, заключительный этап, 11 кл.
- Вентильный фотоэффект и закон Малюса Санкт-Петербургская 2016/17, заключительный этап, 11 кл.